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介質(zhì)損耗儀在電力試驗(yàn)中是比較常見(jiàn)的一款電力試驗(yàn)設(shè)備，本文重點(diǎn)介紹了介質(zhì)損耗儀在試驗(yàn)過(guò)程中存在的故障后該如何應(yīng)對(duì)？順利完成試驗(yàn)?zāi)兀?介質(zhì)損耗測(cè)試儀 用于現(xiàn)場(chǎng)抗干擾介損測(cè)量，或試驗(yàn)室精密介損測(cè)量。

高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用變頻抗干擾和傅立葉變換數(shù)字濾波技術(shù)，全自動(dòng)智能化測(cè)量， 強(qiáng)干擾下測(cè)量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。但是在使用中也難免會(huì)出現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)明顯不合理的情況，一旦出現(xiàn)這正方面的問(wèn)題，可以從以下方面查找原因：

1.搭鉤接觸不良

現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量使用搭鉤連接試品時(shí)， 搭鉤務(wù)必與試品接觸良好， 否則接觸點(diǎn)放電會(huì)引起數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)！ 尤其是引流線氧化層太厚， 或風(fēng)吹線擺動(dòng)， 易造成接觸不良。

2.接地接觸不良

接地不良會(huì)引起儀器保護(hù)或數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)。 應(yīng)刮凈接地點(diǎn)上的油漆和銹蝕， 務(wù)必保證 0 電阻接地！ 

3.直接測(cè)量

CVT或末端屏蔽法測(cè)量電磁式 PT，直接測(cè)量 CVT 的下節(jié)耦合電容會(huì)出現(xiàn)負(fù)介損， 應(yīng)改用自激法。用末端屏蔽法測(cè)量電磁式 PT 時(shí)， 由于受潮引起“T 形網(wǎng)絡(luò)干擾”出現(xiàn)負(fù)介損， 吹干下面三裙瓷套和接線端子盤(pán)即可。 也可改用常規(guī)法或末端加壓法測(cè)量。 

4. 空氣濕度過(guò)大

空氣濕度大使介損測(cè)量值異常增大（ 或減小甚至為負(fù)） 且不穩(wěn)定， 必要時(shí)可加屏蔽環(huán)。 因人為加屏蔽環(huán)改變了試品電場(chǎng)分布， 此法有爭(zhēng)議， 可參照有關(guān)規(guī)程。 

5. 發(fā)電機(jī)供電

發(fā)電機(jī)供電時(shí)輸入頻率不穩(wěn)定， 可采用定頻 50Hz 模式工作。 

6. 測(cè)試線

由于長(zhǎng)期使用， 易造成測(cè)試線隱性斷路， 或芯線和屏蔽短路， 或插頭接觸不良， 用戶應(yīng)經(jīng)常維護(hù)測(cè)試線； 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)電容試品時(shí)， 應(yīng)使用全屏蔽插頭連接， 以消除附加雜散電容影響， 否則不能反映出儀器精度； 自激法測(cè)量 CVT 時(shí)， 非專用的高壓線應(yīng)吊起懸空， 否則對(duì)地附加雜散電容和介損會(huì)引起測(cè)量誤差。 

7. 工作模式選擇

接好線后請(qǐng)選擇正確的測(cè)量工作模式（ 正、 反和 CVT）， 不可選錯(cuò)。 特別是干擾環(huán)境下應(yīng)選用變頻抗干擾模式。 

8. 試驗(yàn)方法影響

由于介損測(cè)量受試驗(yàn)方法影響較大， 應(yīng)區(qū)分是試驗(yàn)方法誤差還是儀器誤差。 出現(xiàn)問(wèn)題時(shí)可首先檢查接線， 然后檢查是否為儀器故障。 

9. 儀器故障

用萬(wàn)用表測(cè)量一下測(cè)試線是否斷路， 或芯線和屏蔽是否短路； 輸入電源 220V 過(guò)高或過(guò)低； 接地是否良好。用正、 反接線測(cè)一下標(biāo)準(zhǔn)電容器或已知容量和介損的電容試品， 如果結(jié)果正確， 即可判斷儀器。

綜上所述，在了解了介質(zhì)損耗測(cè)試儀常見(jiàn)故障處理方法以后，在試驗(yàn)中進(jìn)行貫通，按照要求進(jìn)行試驗(yàn)，將有助于我們介質(zhì)損耗測(cè)試儀試驗(yàn)的順利完成！